Nieuws

MIT onderzoekers gebruiken AI om atomaire defecten in materialen te ontdekken

MIT-onderzoekers hebben een AI-model ontwikkeld dat defecten in materialen kan classificeren en kwantificeren met behulp van neutronen-scattering-techniek. Het model, getraind op 2000 semiconductormaterialen, kan tot zes soorten puntdefecten tegelijk detecteren, iets dat met conventionele methoden onmogelijk is. De techniek maakt gebruik van vibratiefrequenties van atomen in vast materialen en levert een betere inzicht in defecten die de eigenschappen van materialen beïnvloeden.